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PT-308
PT-308
8英寸自动探针台
可搭配直流针座测试,最多支持4个针座安装
高精度CCD视觉定位系统,自动化程度高
可选配高温、高压测试模块,适应更多产品测试要求
可选遮光测试
应用领域
适用于8英寸及以下的集成电路、功率器件类晶圆测试
主要功能
自动晶圆对准功能
MAP图实时显示、存储产品
自动打点
自动清针功能
测试应用
大电流测试
遮光测试
高温测试
高压测试
坏点重测
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适用于5~8英寸集成电路晶圆的自动探针测试。整机特别针对集成电路多芯多探针及高定位精度的测试需求进行设计,可以满足1000根探针以下的单芯或多芯测试,配备全自动上下片系统,具有高精度、高刚性,高稳定性的特点。自动对针提高了对准精度,方便客户多针、多芯测试需要
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PT-903II
8英寸全自动探针台
适用于4~8英寸半导体集成电路、分立器件晶圆的全自动探针测试。配备有高可靠性自动上下片系统,高精度CCD视觉定位系统,自动化程度高。更具有薄片传输能力,应用面广,尤其满足大功率分立器件(IGBT、MOSFET)测试